网站首页 > X射线测厚仪 > X射线测厚仪X射线测厚仪
X射线测厚仪发布者:蓝冰河(常州)精密测量技术有限责任公司   发布时间:2021-7-27 15:32:19    点击次数:1030

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测量原理与应用特点

测量方式为射线穿透吸收式测量,测量直接物理量为面密度(克重)。当X射线穿透材料时,射线被材料反射、散射或吸收,导致射线强度有一些的衰减,且衰减量与被穿透材料的面密度呈正相关关系。

当材料的体积密度固定不变或一致性较高时,可以通过体积密度换算来测量材料的厚度(面密度=密度*厚度)。

X射线测厚仪属于低能辐射装置,且射线可通过电源实现开启关闭,一般不需要专门防护。

X射线测厚仪一般采用O型扫描架。

X射线测厚仪结合激光位移传感器,采用C型大理石扫描架,衍生出X射线激光测厚一体机,可以实现面密度和厚度同时测量,可用于锂电涂布面密度和头尾削薄测量。



性能优异的X射线测量传感器

X射线测量传感器是蓝冰河公司的关键核心技术,由核探测专家集20年经验倾力打造,具有国内少有的高重复精度和长期稳定性。

X射线发射器采用双闭环电路控制系统,保证射线强度长期稳定和测量的高重复性。

X射线探测器引进德国前置放大电路技术,具有高信噪比。

X射线发射器采用专有狭缝式射线准直通道和小光斑设计,结合高信噪比探测器和软件算法,可提供更高的空间分辨精度和条纹缺陷识别。

根据实际测量需要,蓝冰河X射线发射器出射光斑设计有5*5mm、Φ9mm和2*12mm三种型号。

其中,2*12mm射线光斑是蓝冰河专有特色优势技术,可实现锂电涂布边缘削薄区尺寸测量。

公司拥有5Kev超软低能 X射线传感器技术,可实现锂电池隔膜、PI膜等纤薄材料面密度/厚度一致性测量。



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蓝冰河X射线面密度仪/测厚仪技术特色和强大的功能模块

华为软件架构师和大数据专家量身打造的新一代在线测量软件系统,功能更强大,算法更科学。

可实现扫描测量、定点测量、循环定点测量,扫描和定点模式任意切换。

单次/多次轮廓线、分区线、趋势线等丰富的测量曲线实时呈现、多种品质数据显示。

基于数据库的海量全价值数据excel格式存储,历史数据查询和追溯,历史曲线复显。

专业级SPC统计分析,自动生成品质卷报,并可根据客户需求定制。

多种过程控制解决方案,过程实时监控,五线品质控制,多重预警和报警,超限打标。

支持实现闭环自动控制,可对接客户MES系统,可实现多机架同点对位跟踪测量。

自主研发数据采集卡与控制板卡,实时通信系统与CANOPEN总线通信传输,保证高速测量响应。

更强易用性和友好人机界面,一键智能操作。



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性能参数

型号

X射线面密度仪/测厚仪

X射线&激光一体机

RXG700L、RXG750L、RXG850L 。。

RXLG700L、RXLG750L、RXLG850L 。。

测量项目

面密度

面密度&厚度

扫描架

O型扫描架

C型扫描架

测量方式

扫描测量、定点测量、循环定点测量

扫描测量、定点测量、循环定点测量

测量范围

0 ~1000 g/m² 或 0~1000μm

0 ~1000 g/m² 或 0~1000μm

光斑尺寸

Φ9mm、5*5mm 或2*12mm

Φ9mm(射线) & 30*1200μm(激光)

采样距离

1mm

1mm

重复精度

±0.05g/㎡ 或 ±0.05%

±0.05g/㎡(射线) & ±0.4μm(激光)

*上述数据基于锂电池极片涂布面密度/厚度一致性测量数据。



应用领域

塑料薄膜、无纺布、金属箔材、橡胶等各种片材、 卷材或涂层的面密度(厚度)一致性在线测量与控制。





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